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eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測(cè)試方法

2024-11-01

eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱可對(duì)eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤…

高低溫試驗(yàn)箱

eMMC高低溫試驗(yàn)箱

2024-11-01

eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門針對(duì)eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲(chǔ)芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時(shí)支持大批量芯片同步老化測(cè)試，腔體…

高低溫試驗(yàn)箱

光電器件高低溫特性試驗(yàn)箱的實(shí)際應(yīng)用

2024-10-21

很多光電器件必須長(zhǎng)時(shí)間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問(wèn)題變得越來(lái)越嚴(yán)重。針對(duì)電器件的高低溫失效問(wèn)題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化…

高低溫試驗(yàn)箱

光電產(chǎn)品高低溫生命期實(shí)驗(yàn)箱的試驗(yàn)流程

2024-10-21

針對(duì)光電產(chǎn)品開(kāi)展高低溫循環(huán)試驗(yàn)。試驗(yàn)過(guò)程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對(duì)器件進(jìn)行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測(cè)試和分析。高低溫循環(huán)試驗(yàn)需確定以下試驗(yàn)參數(shù)…

高低溫試驗(yàn)箱

光電器件高低溫操作生命期試驗(yàn)箱

2024-10-21

光電子器件包括光探測(cè)器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對(duì)電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備…

高低溫試驗(yàn)箱

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