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SSD固態(tài)硬盤老化柜用于固態(tài)硬盤批量老化，測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因為在長時間讀寫和高溫環(huán)境下，會加速芯片老化，可能導(dǎo)致故障提前出現(xiàn)。
