YD/T 2284-2011《終端光組件用光纖帶》是一項(xiàng)中華人民共和國(guó)通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了終端光組件用光纖帶的結(jié)構(gòu)、型號(hào)、技術(shù)指標(biāo)、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及包裝、運(yùn)輸和貯存要求。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法的一般要求和詳細(xì)要求，包括:試驗(yàn)?zāi)康摹⒃O(shè)備、條件、程序、檢驗(yàn)及失效判據(jù)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于通信用光電子器件，包括但不限于激光二極管、發(fā)光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊，簡(jiǎn)稱(chēng)“光電子器件”。其他領(lǐng)域的光電子器件也可參照使用。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
熱沖擊試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高溫老化箱等。

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五、試驗(yàn)程序（部分）：

高溫壽命試驗(yàn)：

試驗(yàn)條件如下:
試驗(yàn)溫度:(85士2)℃(不限于):
工作偏置:正常工作偏置（不限于);
試驗(yàn)時(shí)間:5000h（不限于)。

試驗(yàn)程序如下:
a)試驗(yàn)前應(yīng)對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試;
b)將試樣放進(jìn)高溫試驗(yàn)箱內(nèi)，并使樣品處于工作狀態(tài);
c)按照試驗(yàn)條件開(kāi)始試驗(yàn)，記錄起始時(shí)間、試驗(yàn)溫度和樣本數(shù);
d)使用監(jiān)視儀器，從試驗(yàn)開(kāi)始到試驗(yàn)結(jié)束監(jiān)視試驗(yàn)溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應(yīng)力;
e)在中間測(cè)試時(shí)將樣品從高溫試驗(yàn)箱取出，測(cè)試完成后放回高溫試驗(yàn)箱繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)。

檢測(cè)
一般每168h在常溫下測(cè)試一次光電特性。在測(cè)試前應(yīng)先去掉偏置，然后冷卻到室溫后進(jìn)行測(cè)試。