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高溫低溫高度試驗箱可以用于微電子器件的高空工作試驗，通過低氣壓試驗，可以檢測微電子在低氣壓環(huán)境下，由于空氣和其他絕緣材料的絕緣強度減弱抗電擊穿失效的能力。
微電子低氣壓試驗：
試驗設備：高溫低溫高度試驗箱（高低溫低氣壓試驗箱）
設備型號：環(huán)儀儀器 HYLA-1000
測試標準：GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
配套設備：真空泵、壓力表、示波器等
.jpg "高溫低溫高度試驗箱在微電子的低氣壓試驗(圖1)")
試驗步驟：
1. 樣品應按規(guī)定安放在密封室內，除另有規(guī)定外，以不大于10kPa/min 的降壓速率將試驗箱內氣壓降到有關標準規(guī)定的值。把樣品保持在規(guī)定的壓力下，對它們進行規(guī)定的試驗。
2. 在試驗期間及試驗前的20min內，試驗溫度應為25℃±10℃。
3. 連接器件，進行測量，并且在整個抽氣過程中施加規(guī)定的電壓。
4. 用微安表或示波器監(jiān)視施加最大電壓的器件引出端，從直流到30MHz范圍內看其是否出現(xiàn)電暈放電電流或進行其他規(guī)定的性能測試。
5. 對器件施加規(guī)定的電壓，在從常壓到規(guī)定的最低氣壓并恢復到常壓的整個過程中監(jiān)測器件是否出現(xiàn)故障。器件如出現(xiàn)飛弧、有害的電暈或其他任何影響器件工作的缺陷或退化，都應視為失效。
如對此試驗有疑問的，可以咨詢“環(huán)儀儀器”，獲取專業(yè)人員的技術支持。
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