為了測試SSD固態(tài)硬盤的“軟件讀寫性能測試”,在測試過程中,需要使用高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱和常溫存放H2test校驗(yàn)測試,為了讓大家了解固態(tài)硬盤的高低溫讀寫性能,接下來我們?yōu)榇蠹抑v述該方法的主要過程。
SSD固態(tài)硬盤高低溫讀寫性能:
試驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱
測試軟件:BurnInTest、H2test
測試環(huán)境:高溫75℃/低溫-10℃
測試樣品:某品牌SSD固態(tài)硬盤
測試過程:
測試開始前,設(shè)置程序,先升溫到75℃,持續(xù)12小時,然后逐漸降溫至-10℃,持續(xù)12小時,共經(jīng)歷3次循環(huán),合計(jì)72小時。經(jīng)過72小時的高低溫循環(huán)后,PassMark BurnInTest的判定通過。
說明SSD在72小時的高溫和低溫的循環(huán)下,能夠進(jìn)行正常的滿載傳輸,按照電腦正常滿載運(yùn)作,CPU溫度達(dá)到60℃時會出現(xiàn)卡頓現(xiàn)象,但能夠在75℃高溫或者-10℃低溫下穩(wěn)定進(jìn)行滿載工作。
此外,為了檢測產(chǎn)品內(nèi)部是否有產(chǎn)生壞塊,用來專業(yè)檢測固態(tài)硬盤壞塊的軟件H2testw進(jìn)行常溫下48小時滿盤寫入+校驗(yàn),目的這是為了檢測在如此苛刻條件下,硬盤是否會產(chǎn)生壞塊的情況。
以上就是固態(tài)硬盤的高低溫循環(huán)試驗(yàn)過程,如對試驗(yàn)有疑問,可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。