以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標(biāo)準(zhǔn)（85%rh相對(duì)濕度85℃熱環(huán)境）對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱的研發(fā)，是為了解決以上超長(zhǎng)的實(shí)驗(yàn)周期，下面，我們結(jié)合實(shí)際使用要求，來(lái)看看高加速HAST試驗(yàn)箱的技術(shù)要求。

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱

產(chǎn)品特性：解決超長(zhǎng)的實(shí)驗(yàn)周期，不支持表面貼裝工藝，對(duì)整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中元件電氣性的檢測(cè)等問(wèn)題。

技術(shù)要求：

1.HAST實(shí)驗(yàn)箱

功能：模擬高溫高濕環(huán)境，進(jìn)行加速老化測(cè)試。可在110~130℃溫度范圍內(nèi)保持相對(duì)濕度為85%。

技術(shù)參數(shù)：

2.系統(tǒng)工作原理

測(cè)試準(zhǔn)備：用戶通過(guò)中控模塊設(shè)置測(cè)試參數(shù)，包括溫度、濕度、測(cè)試時(shí)間等。

環(huán)境模擬：HAST實(shí)驗(yàn)箱根據(jù)設(shè)定參數(shù)，啟動(dòng)高溫濕度控制系統(tǒng)，模擬實(shí)際使用環(huán)境。

信號(hào)采集：待測(cè)元件在測(cè)試過(guò)程中，相關(guān)數(shù)據(jù)通過(guò)多路信號(hào)適配板傳輸至多路數(shù)據(jù)采集模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

數(shù)據(jù)處理：采集到的數(shù)據(jù)被傳送至中控模塊，由控制處理器進(jìn)行處理和存儲(chǔ)。

結(jié)果分析：測(cè)試完成后，用戶可通過(guò)人機(jī)交互界面查看測(cè)試結(jié)果和分析數(shù)據(jù)。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1.HAST試驗(yàn)箱適用于各類半導(dǎo)體元件的HAST可靠性測(cè)試，能夠驗(yàn)證貼片封裝和接插元件在實(shí)際焊接條件下的使用壽命。中控模塊可設(shè)定HAST試驗(yàn)箱的溫濕度和電源電壓，實(shí)時(shí)記錄和分析多路數(shù)據(jù)，生成伏安特性圖供技術(shù)人員參考。

2.可對(duì)幾乎所有半導(dǎo)體和光伏元件進(jìn)行HAST實(shí)驗(yàn)，采用多路信號(hào)采樣可同時(shí)對(duì)多個(gè)樣本進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)，且測(cè)試時(shí)間僅需ICE的十分之一。

3.設(shè)計(jì)了多重信號(hào)分路板，并配備濾波器和保護(hù)電路，有效過(guò)濾噪聲和防止浪涌，確保儀器安全和信號(hào)純凈。

如有JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱的選型疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。