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隨著電子技術的飛速發(fā)展。半導體元器件作為組成各種電子電路的核心元件，不斷應用于各種嚴酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴酷的條件來縮短測試周期和即時的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方法，行業(yè)內(nèi)會使用HAST高加速應力濕熱試驗機來進行高加速應力試驗，下面我們來探討一下高加速應力濕熱試驗機在半導體二極管上的測試應用。
半導體元件二極管的加速試驗：
試驗設備：環(huán)儀儀器 HAST高加速應力濕熱試驗機
試驗原理：
施加嚴酷的溫度、濕度及提高水汽壓力通過外部保護材料（包封料或密封料）或沿著外部保護材料和金屬導體介面的滲透，該試驗過程未施加偏壓以確保失效機制不被偏壓所掩蓋，該試驗用來確定封裝體內(nèi)的失效機制，樣品處于非凝結的濕度環(huán)境中。
試驗步驟：
1.首先將待測試二極管焊接在實驗線路板上，可以模擬二極管在實際工作的產(chǎn)品中的工作環(huán)境，加載到HAST高加速應力濕熱試驗機中的專用夾具上。通過中央控制模塊的控制程序設定加載到二極管的電壓變化曲線，和溫濕度變化曲線。
2.設定HAS試驗箱溫度變化在25；85；125，三個溫度點循環(huán)，每個溫度點恒定10分鐘，且保持相對濕度85%，一共100個循環(huán)。
3.通過控制程序每個溫度恒定點給二極管正向加載電壓0~0.6V，然后反向加載電壓0~25V。數(shù)據(jù)采集模塊會對每個待測元件進行即時的電流采樣，并將模擬信號轉換數(shù)字信號傳送給控制模塊。
4.控制程序將收集到的數(shù)據(jù)收集到自帶數(shù)據(jù)庫，待整個試驗結束可以生成每個溫度循環(huán)的伏安特性圖表，可以分析和判定二極管的在設計使用周期內(nèi)的穩(wěn)定性。
如有HAST高加速應力濕熱試驗機的試驗疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
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