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JESD22高加速應(yīng)力試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
相關(guān)實驗標準：
GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A118B、JEITA ED-4701/100A、AEC-Q100-Rev-H
技術(shù)參數(shù)：
試驗要求說明：
1.JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
試驗條件包括：溫度，相對濕度，和元件加偏壓的時間
常用測試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h
2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗
常用測試條件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h
3.JESD22-A118：溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
試驗條件包括：溫度，相對濕度，蒸汽壓力和時間
常用測試條件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數(shù)25ea/lot，3lots
4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗
5. JESD22-A102-D：PCT無偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?/strong>
試驗條件包括：溫度，相對濕度，蒸汽壓力和持續(xù)時間
常用測試條件：121℃±2/100%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h
如有JESD22高加速應(yīng)力試驗箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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